Санкт-Петербургский Дом Книги
ИНТЕРНЕТ-МАГАЗИН:
(800) 555-08-42
СПРАВОЧНАЯ СЛУЖБА ДОМА КНИГИ
НЕВСКИЙ, 28:
(812) 448-23-55
Купить книгу Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии.
  • Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии.


  • Автор: Рид С. Дж. Б. ISBN: 978-5-94836-177-2
    Издательство: М.:ТЕХНОСФЕРА Год издания: 2008
    Полка: Этаж 0, раздел 170-177, стеллаж 01, полка 3
Отсутствует в продаже


ОПИСАНИЕ

В предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, основные принципы формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно изложены процедуры качественного и количественного рентгеноспектрального анализа.
Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.

Поклад Г.Г. и др.
845,00 o






«Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии.» из раздела «Геология. Полезные ископаемые» — издание, которое часто покупают как для домашней коллекции, так и в подарок. Всё благодаря высокому качеству полиграфии и яркой визуализации, которые являются визитной карточкой издательства «М.:ТЕХНОСФЕРА». Рид С. Дж. Б. — интересный автор, уделяющий особое внимание общей концепции и проработке содержания. Поэтому книга стоит своих денег. Доставка осуществляется курьером по Санкт-Петербургу и «Почтой России» при заказе из других городов. Возможен самовывоз.

Ваша корзина пуста. Для оформления заказа Вам необходимо добавить товары в корзину с помощью соответствующей кнопки.

ВНИМАНИЕ!



МЫ В СОЦИАЛЬНЫХ СЕТЯХ: