Санкт-Петербургский Дом Книги
ИНТЕРНЕТ-МАГАЗИН:
(800) 555-08-42
СПРАВОЧНАЯ СЛУЖБА ДОМА КНИГИ
НЕВСКИЙ, 28:
(812) 448-23-55
Купить книгу Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии.
  • Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии.


  • Автор: Рид С. Дж. Б. ISBN: 978-5-94836-177-2
    Издательство: М.:ТЕХНОСФЕРА Год издания: 2008
    Полка: Этаж 0, раздел 170-177, стеллаж 01, полка 3
Отсутствует в продаже


ОПИСАНИЕ

В предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, основные принципы формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно изложены процедуры качественного и количественного рентгеноспектрального анализа. Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.

Поклад Г.Г. и др.
919,80o






Интернет-магазин Дома Книги рад представить Вашему вниманию книгу "Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии." из раздела "Геология. Полезные ископаемые". Перед покупкой книги Вы можете ознакомиться с информацией о ней и номером ISBN 978-5-94836-177-2. Доставка книги осуществляется почтой РФ, самовывозом, а также курьером по Санкт-Петербургу.

Ваша корзина пуста. Для оформления заказа Вам необходимо добавить товары в корзину с помощью соответствующей кнопки.

ВНИМАНИЕ!



МЫ В СОЦИАЛЬНЫХ СЕТЯХ: